Programa encontra contaminantes em metais e ligas metálicas

Redação do Site Inovação Tecnológica - 15/12/2004

Para que a indústria consiga criar produtos e equipamentos cada vez mais leves, mais resistentes e mais eficientes, é necessário que se disponha de metais com crescentes graus de pureza e ligas metálicas com propriedades cada vez mais avançadas.

Essa não é uma tarefa fácil: encontrar um contaminante no meio de um metal ou de uma liga pode ser bem mais difícil do que encontrar uma agulha num palheiro. Principalmente porque, nesses casos, além de não se saber se a "agulha" está realmente lá, não se tem a menor idéia de com o que ela se parece.

Mas a tarefa começa a ficar mais fácil, graças a um programa criado pelo Instituto Nacional de Tecnologia e Padronização, dos Estados Unidos. O software é capaz de encontrar contaminantes químicos sem ter que saber nada de antemão sobre a composição ou a forma desse contaminante.

O novo programa deverá ser especialmente útil para a análise de metais ultra-puros - que possuem maior resistência e são menos atacados pela corrosão - e para o monitoramento da fabricação de produtos sensíveis como os semicondutores da indústria eletrônica.

O programa trabalha com dados coletados a partir de detectores de raios- X. A imagem no alto, por exemplo, foi gerada por ele a partir de uma imagem padrão de raio-X. O alumínio puro está representado em azul, o níquel puro em vermelho e as liga níquel-alumínio nas cores intermediárias entre o azul e o vermelho.

O ponto verde no alto à esquerda é a tão procurada "agulha", uma partícula de cromo que está contaminando o material. O programa detectou esse contaminante apesar de seu tamanho quase desprezível: ele ocupa apenas um pixel na imagem digital original.

O novo programa foi descrito no exemplar de Novembro do Jornal de Microscopia, assinado pelo pesquisadores D.S. Bright e D.E. Newbury.