Novo microscópio híbrido revela nano-eletrônica

Redação do Site Inovação Tecnológica - 09/11/2006

Pensar em nanotecnologia e se esquecer dos microscópios é como pensar em futebol e se esquecer da bola. Muito além dos microscópios ópticos, os grandes avanços da nanotecnologia estão sendo possíveis graças a uma geração recente de microscópios eletrônicos.

Agora, pesquisadores do instituto NIST e da Universidade do Colorado, ambos nos Estados Unidos, criaram mais um tipo de microscópio. O novo equipamento, que se insere na categoria dos microscópios de rastreamento, consegue revelar, ao mesmo tempo, as características físicas e eletrônicas de nanoestruturas metálicas.

Batizado de SPIM ("Scanning photoionization microscope": microscópio de rastreamento por fotoionização), o novo microscópio deverá ser particularmente útil na análise das propriedades e da estruturação de nanopartículas e componentes eletrônicos em nanoescala.

Formado pela junção de um microscópio óptico e de um laser ultra-rápido, o SPIM combina a grande resolução espacial do microscópio óptico com a alta sensitividade a delicadas atividades elétricas. Isto é conseguido por meio da detecção de elétrons de baixa energia emitidos por um material quando ele é iluminado com pulsos de laser.

A nova técnica de imageamento poderá ser utilizada para se fazer fotografias de padrões tanto físicos quanto eletrônicos, em componentes como transistores e sensores nanoscópicos, ou também para identificar até mesmo elementos químicos no interior desses componentes.

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