Redação do Site Inovação Tecnológica - 01/03/2006
Os microscópios são as ferramentas básicas de todos os pesquisadores da nanotecnologia. E não mais os microscópios ópticos - limitados no tamanho mínimo das estruturas que podem ser visualizadas através deles: quando se fala de dimensões de poucos nanômetros, a palavra de ordem são microscópios de tunelamento, rastreamento etc., todos eletrônicos.
Agora, pesquisadores do Instituto Max Planck, Alemanha, conseguiram juntar dois desses microscópios, criando um novo equipamento que é capaz de revelar as estruturas internas de nanomateriais - tudo em 3D.
Juntando um microscópio de rastreamento eletrônico e um microscópio de feixes de íons, os cientistas construíram um novo instrumento com um verdadeiro arsenal de sensores e detectores, capazes de medir padrões de difração eletrônica e orientações, além de fazer análises químicas.
Até agora existiam duas maneiras de se investigar microestruturas em três dimensões: a primeira, através de raios-X ou por meio de feixes de elétrons ou nêutrons. Embora sejam não-destrutivos, esses métodos são demorados e só dão informações importantes sobre materiais cristalinos.
A segunda maneira era fatiar o material e ir tirando fotografias das diversas camadas, reconstruindo-o em seguida por meio de programas de computador especializados.
O novo microscópio, primeiro, tira uma fotografia bidimensional da amostra, por meio do método cristalográfico ou químico desejado. A seguir, com precisão nanoscópica, um feixe de íons retira uma fatia da amostra, permitindo a análise de sub-superfície. O processo continua até que o pesquisador tenha uma imagem digital tridimensional completa da amostra.
O novo microscópio tem uma resolução lateral que é cerca de duas vezes maior da que é alcançada com os métodos atuais, atingindo pelo menos 40 nanômetros cúbicos. E, como ele opera de forma totalmente automatizada, ele consegue revelar detalhes de amostras grandes - pelo menos para os padrões da nanotecnologia - medindo até 70 micrômetros cúbicos.